问题形貌

客户使用iperf3测试100G网卡时发明速率无法抵达100G，，经咨询研发100G网卡在iperf3上测试保存问题，，需要使用iperf2工具举行测试，，改用后测试正常。。。。同时客户要求单卡双口bond抵达200G，，由于PCIE速率及板卡设计问题不支持单卡双口bond实现200G，，需要使用双卡绑定实现。。。。

涉及规模

V02201Y000000000      网卡_M_100G_MCX516A-CCAT_LC_PCIEx16_2_XR

故障根因

M5平台只支持PCIE3.0，，凭证PCIE3.0的标准8Gb/s ，，编码原则128/130b，，100G网卡用16条lane（X16），，以是理论总带宽=16*8Gb/s*128/130=126Gb/s ，，以是也就是说PCIE总线理论上也只能到126G的总带宽，，加上种种消耗，，现实也就到100G左右，，PCIE链路有限制，，并且此款卡也只支持100G。。。。以是无法抵达200G的速率。。。。

     同时测试时每次测试竣事后需要竣事server端的程序，，需要再次测试时再次启用。。。。不可开启一次server端之后，，client端一直多次测试，，此种情形会导致server端CPU占用率攀升，，严重影响测试的准确性。。。。